Deep Learning in der Qualitätskontrolle

MEMS and micro-optics components waste© CSEM

Mikrosysteme durchdringen unseren Alltag. Wir erwarten, dass sie zuverlässig funktionieren. Ausfälle sind ärgerlich – schlimmstenfalls gefährlich. Die zuverlässige Früherkennung von Defekten solcher Systeme – schon in der Produktion – ist deshalb entscheidend. Leider können heute in vielen Fällen Inspektionsanlagen nicht zwischen kritischen und unkritischen Fehlern unterscheiden, sodass diese zeitintensive Aufgabe von Qualitätsfachleuten übernommen werden muss. Eine der Produktfamilien bei Axetris umfasst hochwertige Mikrolinsen für optische Systeme. Ziel war die Verbesserung des Inspektionsprozesses für diese Linsen – und zwar um einen Faktor 10 in der Zuverlässigkeit, Reproduzierbarkeit und Geschwindigkeit. Unterstützt vom CSEM wurde Deep Learning in der Qualitätskontrolle implementiert.

Zum Einsatz kommen neuronale Netze, um Abweichungen zu erkennen und zu klassifizieren. Danach ermöglicht Deep Learning die Identifizierung von unterschiedlichsten Anomalien und deren zuverlässige Bewertung. CSEM sorgte auch dafür, dass Axetris die Algorithmen leicht an die verschiedenen Teile und Qualitätsansprüche anpassen kann. Das System erreicht eine nahezu perfekte Fehlerklassifizierung und erlaubt nebenbei auch noch Rückschlüsse für die Verbesserung der Produktionsprozesse, was im Ganzen zu einer höheren Kundenzufriedenheit führte.