16. Juli 2020

Zusammenarbeit mit der Axetris

Aus der jüngsten Zusammenarbeit des CSEM mit der Axetris AG ist eine nutzerzentrierte Plattform zur Qualitätskontrolle entstanden, die Fehler bei der Herstellung mikroelektromechanischer (MEMS) oder mikrooptischer (MOEMS) Chips erkennen, diagnostizieren und kategorisieren kann. Die Plattform basiert auf künstlichen neuronalen Netzen, maschinellem Lernen und dem vom CSEM entwickelten Programm VISARD. Das System kann leicht angepasst und trainiert werden, um auf Änderungen in Produktionsprozessen oder Fehlerkriterien zu reagieren

Automatic Crack Detection with Deep Neural Network